黄金分析仪

我们的黄金分析仪采用XRF(X射线荧光)技术,数秒内即可在不造成任何化学损伤的情况下检测黄金及其他贵金属的纯度、K金值和合金成分。

技术参数

分析元素范围 S (No:16) – U (No:92)
单次检测元素数量 最多30种元素
贵金属分析范围 %0.010 – %99.999
精度 ±0.03%(以9999纯金为参考)
探测器 Si-PIN / SDD (USA – AMPTEK)
能量分辨率 145 ± 5 eV
准直器(测量点) Ø 1.2 mm(点测量)
X射线几何 90°测量角度
X射线管 铍窗
典型测试时间 60秒
多点连续测试 同一产品上的连续多点测量
警告提示 镀层检测警告、铑/钨检测警告
可选功能 报告打印
计算机/操作系统 Intel Celeron (2 core), Windows 10 Pro

核心亮点

  • 无损分析
  • 数秒出结果
  • 多元素分析
  • 触摸屏
  • 报告打印
  • 实用设计
价格: 0 €

产品详细介绍

本设备配备先进技术组件,提供高精度、高可靠性的分析结果。采用美国Amptek探测器技术,提供Si-Pin和SDD两种选项,满足不同需求。低误差率确保更清晰、更一致的测量结果。铍窗X射线管与90°测量角度进一步提升分析精度,经优化的1分钟检测周期可提供稳定可靠的数据。先进准直器结构支持更精密的测量。镀层产品分析中支持适当的测量方式以获得更准确的结果。高X射线稳定性确保平均值更加可靠。此外,设备配备先进绝缘系统,将用户安全置于首位,支持长期安全使用。

XRF技术可靠分析

XRF(X射线荧光)方法无需对样品进行酸处理或化学处理即可检测金属含量。 因此被分析的产品不会受到任何损害,检测即时完成。

  • 无损: 绝不损害产品,无需化学试剂
  • 快速: 短至60秒即可获得准确结果
  • 可靠: 高精度SDD和Si-Pin探测器实现±0.01-±0.03%的准确度
  • 全面: 黄金、白银、铂金、钯及30+种元素分析

应用领域

  • 珠宝店和精炼厂的纯度检控
  • 贵金属交易点
  • 珠宝生产质量控制
  • 海关和监管机构
  • 金属分析

质保与服务

本产品享有2年制造商质保。售后全天候技术支持服务,始终伴您左右。

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