Presentation du produit

Notre analyseur d'or fonctionnant avec la technologie XRF (fluorescence X) mesure en quelques secondes le taux de purete, la valeur en carats et la composition des alliages de l'or et d'autres metaux precieux, sans aucun dommage chimique.

Specifications techniques

Plage d'elements analysables S (No:16) – U (No:92)
Nombre d'elements par mesure Jusqu'a 30 elements
Plage d'analyse metaux precieux 0,010 % – 99,999 %
Precision ±0,03 % (reference or 9999)
Detecteur Si-PIN / SDD (USA – AMPTEK)
Resolution energetique 145 ± 5 eV
Collimateur (point de mesure) Ø 1,2 mm (mesure ponctuelle)
Geometrie X-ray Angle de mesure 90°
Tube X-ray Beryllium
Duree de test typique 60 secondes
Test multipoints continu Mesure en serie sur le meme produit
Alertes Alerte placage (coating), detection rhodium/tungstene
Option Impression de rapports
Ordinateur / OS Intel Celeron (2 core), Windows 10 Pro

Caracteristiques principales

  • Analyse non destructive
  • Resultats en secondes
  • Analyse multi-elements
  • Ecran tactile
  • Impression rapports
  • Design pratique

Informations detaillees sur le produit

Notre appareil est equipe de composants haute technologie pour offrir une precision elevee et des resultats d'analyse fiables. Avec la technologie de detecteur Amptek d'origine americaine, il propose les options Si-Pin et SDD pour repondre a differents besoins. Grace a sa faible marge d'erreur, des resultats de mesure plus nets et coherents sont obtenus. Le tube X-Ray a fenetre en beryllium et l'angle de mesure a 90° augmentent la precision de l'analyse, tandis que la duree de test optimisee d'une minute assure des donnees equilibrees et fiables. La structure avancee du collimateur permet des mesures plus precises. Pour l'analyse de produits plaques, une approche de mesure appropriee est prise en charge pour des resultats plus justes. Avec une stabilite elevee des rayons X, les valeurs moyennes sont obtenues de maniere plus fiable. De plus, l'appareil offre une utilisation sure et durable grace a son systeme d'isolation avance, donnant la priorite a la securite de l'utilisateur.

Analyse fiable par technologie XRF

La methode XRF (fluorescence X) detecte la teneur en metal sans soumettre l'echantillon a un traitement acide ou chimique. Ainsi, le produit analyse ne subit aucun dommage et le processus est instantane.

  • Non destructif : N'endommage jamais le produit, sans produits chimiques
  • Rapide : Resultat precis en seulement 60 secondes
  • Fiable : Precision de ±0,01 a ±0,03 % avec detecteur SDD et Si-Pin haute sensibilite
  • Complet : Analyse de l'or, l'argent, le platine, le palladium et 30+ elements

Domaines d'utilisation

  • Controle de purete en bijouterie et raffineries
  • Points d'achat-vente de metaux precieux
  • Controle qualite de production joailliere
  • Douanes et organismes de controle
  • Analyse metallurgique

Garantie et service

Garantie fabricant 2 ans. Support technique 7j/24.

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